
Pierwsze prawdziwe obliczenia kwantowe
25 lutego 2013, 13:06Naukowcy z brytyjskiego University of Bristol i australijskiego University of Queensland zaprezentowali działanie pierwszego kwantowego algorytmu, który jest w stanie przeprowadzić prawdziwe obliczenia bez wcześniejszej znajomości wyniku. Wykorzystany przez nich kwantowy algorytm oszacowania fazy jest ważną częścią innych, bardziej złożonych algorytmów, a jego praktyczne wykorzystanie przybliża nas do momentu pojawienia się maszyn kwantowych

Zaraźliwe drapanie to głęboko zakorzeniony instynkt
13 marca 2017, 10:41Niektóre zachowania, np. ziewanie czy drapanie, są społecznie zaraźliwe. Naukowcy ze Szkoły Medycznej Uniwersytetu Jerzego Waszyngtona wykazali, że społecznie zaraźliwe swędzenie jest zakorzenione w mózgu.

Wulkany wpływały na zmiany dynastii rządzących w Chinach
15 listopada 2021, 13:24Autorzy interdyscyplinarnych badań dowodzą istnienia związku pomiędzy aktywnością wulkanów a upadkami chińskich dynastii na przestrzeni ostatnich 2000 lat. Erupcje wulkaniczne, które są dominującym w skali globalnej zewnętrznym czynnikiem prowadzącym do krótkoterminowych zmian klimatycznych, miały wpływ na dzieje Państwa Środka, stwierdzają naukowcy z Chin, USA, Szwajcarii, Niemiec i Irlandii.

Wiedzą, jak zbadać molibdenit
22 kwietnia 2013, 16:41Disiarczek molibdenu (MoS2), występujący często w postaci molibdenitu to, jak niejednokrotnie informowaliśmy, niezwykle obiecujący materiał. Ma wiele właściwościo podobnych do grafenu, a że, w przeciwieństwie do niego, posiada przerwę energetyczną, może być bez większych przeszkód używany w elektronice.